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车规 SiC 功率模块封装工艺难点与国产替代路径

结论先行:800V 平台与高压快充把 SiC 功率模块推上主驱逆变刚需位。其制造难点集中在高温封装材料、烧结互连、功率循环寿命三处,国产突破的关键不在芯片本身,而在封装与可靠性验证体系。

工艺环节与难点

工艺环节核心难点国产进展
芯片减薄/背面金属化薄晶圆翘曲、低缺陷金属层中端已量产,高端仍爬坡
芯片贴装(Die Attach)银烧结空洞率控制银烧结设备与材料快速跟进
互连(键合/Clip)大电流下的热机械疲劳铜 Clip 方案逐步导入
塑封/灌封高耐温、低应力封装料国产封装料验证中
功率循环测试寿命建模与上车验证车规 AQG 324 对标中

三个判断锚点

1. 银烧结替代焊料是高温可靠性的分水岭,空洞率直接决定功率循环寿命。

2. 热阻(Rth)与杂散电感是模块电性能的两大硬指标,封装结构决定上限。

3. 车规可靠性验证周期是国产替代的真实门槛——芯片能造,不等于模块能上车。

SiC 模块的竞争终局不在"谁能做芯片",而在"谁能把封装良率与功率循环寿命稳定跑满车规曲线"。

供应商关注要点

评估 SiC 模块供应商时,应重点看已量产车型定点数量功率循环实测数据,而非仅看芯片自研比例。封装与验证能力才是上车确定性。

发布日期 2026-09-08 | 分类 汽车制造工艺
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